• Главная
  • Продукты
  • Производители
  • О компании
  • Вакансии
  • Акции и предложения
  • О холдинге
  • ПО Damaskos MU-EPSLN

    Дополнительная информация


    ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК МАТЕРИАЛОВ MU-EPSLN™

    ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ КОАКСИАЛЬНЫХ ВОЛНОВОДОВ И ВОЛНОВОДОВ TE

    Параметр Тип

    Образец

    μ и ε S11 и S21

    Произвольное расположение

    μ и ε S11, S21

    Закороченный, двойной толщины

    μ S11 Закороченный, тонкий
    ε S11

    Разомкнутый, коаксиальный, тонкий

    ε, μ = 1 S11

    Произвольный импеданс нагрузки

    ε, μ = 1 S21

    Произвольное расположение

    Zs (импеданс листового материала)

    S11 или S21

    Произвольное расположение

    • Калибровка
                      Типа LRL/TRL
                      С использованием эталонов малых смещений
                      При разомкнутой цепи/при замкнутой цепи/при подключенной нагрузке
    • Полное управление измерительными устройствами
    • Программируемая временная область и временная селекция
    • Windows 2000/XP и Mac OS X 10.2 или выше

    Программное обеспечение MU-EPSLN™ и производные программные пакеты, работающие в операционной системе Microsoft Windows 2000/XP/Vista и Intel Macintosh OS X, используются для измерения S-параметров (параметров рассеяния) и для вычисления характеристик материалов от ВЧ до частот миллиметрового диапазона. В случае использования этих пакетов вычисляется магнитная проницаемость (µ) и диэлектрическая проницаемость (ε) изотропных материалов, измеряемых с использованием круглых и квадратных коаксиальных резонаторов, либо в любых схемах компании DI, поддерживающих измерение моды типа TEM (поперечная электромагнитная мода), и/или в схемах с волноводами компании DI. Эти программы предоставляют пользователям возможность выполнения калибровки типа TRL/LRL («пропускание-отражение-линия»/«линия-отражение-линия»), калибровки с использованием эталонов нагрузок и калибровки с использованием эталонов малых смещений. Необработанные и обработанные данные могут быть сохранены на диске.

    Эти программы предоставляют пользователям гибкие меню и выполняют полное управление измерительными устройствами. Качание в выбранном пользователем частотном диапазоне может выполняться с использованием такого числа шагов изменения частоты, которое поддерживается анализатором. Пользователь может использовать все функциональные возможности сетевого анализатора либо с использованием внешнего контроллера, либо с использованием лицевой панели.

    Пользователю предоставляется доступ ко всем необработанным и обработанным данным для выполнения дополнительной и/или специальной обработки данных. Для точной установки образца пользователь может изменять фазу сигнала. Помимо диаграмм Смита (круговых диаграмм полных сопротивлений) и диаграмм Коул-Коула (диаграмм зависимости мнимой составляющей комплексной относительной диэлектрической проницаемости от действительной диэлектрической проницаемости на различных частотах) также выводятся графики S-параметров (амплитуда и фаза), μ, ε и импеданса в прямоугольной системе координат.

    Кроме того, может использоваться опция программируемой временной области и временной селекции.

    Предоставляются драйверы для использования анализаторов серий ZVA, ZVB, ZVC и ZVK компании Rohde&Schwarz. Это программное обеспечение может использоваться на персональных компьютерах, совместимых с ПК IBM, или на компьютерах Intel Macintosh с операционной системой OS X (10.5 или выше). Также требуется интерфейс GPIB компании National Instruments Corp. Этот интерфейс может быть предоставлен компанией DI (Damaskos, Inc.).

    Запросить цену можно по телефону или заполнив эту несложную форму.

    ФИО:

    Компания:

    Контактные данные: